MEMS用テスタ
SPEA社製MEMS用テスタ
MEMS用テスタのマーケットリーダー、15年以上の実績
MEMSの量産が始まった当初からSPEAはMEMS業界大手メーカー様向けに最先端・最適なソリューションを開発、導入してきました。MEMS、センサー、アクチュエータのテスト＆キャリブレーションの卓越した開発力・技術力に裏打ちされた実績があります。
SPEAのMEMS用テスタは、MEMSの特性検査、キャリブレーションに必要な物理的刺激、包括的な電気テスト、高速ピック＆プレースハンドラ、信頼性の高いDUTコンタクト（テストソケット）で構成されています。
SPEAのMEMS用テストセルは、標準パッケージまたはチップスケールパッケージング技術で製造された半導体やMEMSデバイスの3×温度試験用に設計されており、1台の装置で両方のタイプのデバイスを扱えるという大きなアドバンテージが有ります。
SPEA装置を使用することで、MEMSデバイスのすべての機能を実際の動作と同じ物理的条件下で制御することができます。
SPEA MEMSテストソリューションの強み
- テストハンドラ、スティミュラス、テスタ、コンタクタ（DUTソケット）、トライテンプモジュールを含むMEMSテストセル
- WLCSPまたは1x1mmまでの標準パッケージ用ソリューション
- 容易な品種切替
- 量産およびエンジニアリングセットアップ（開発環境セットアップ）が可能
- グローバルサポート
MEMSテスト・ユニットには以下に対応しています。
- 低g加速度センサ＆ジャイロスコープ
- 高gセンサ
- 気圧＆TPMS圧力センサー
- 環境センサ
- 湿度センサ
- 温度センサ
- ガスセンサ
- 地磁気センサ
- 磁気速度センサ
- 光センサ
- 近接センサー＆ToFセンサ
- マイクロホン＆スピーカ
- 紫外線センサ
SPEA Products
DOT100 MEMS Device-Oriented Tester
Cost per pin ＜100
USD
Up to 1,152 A/D channels
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